近日，法國Phasics為滿足客戶需求，推出基于磚利的四波橫向剪切干涉技術和高性能InGaAs探測器的高性價比SID4-SWIR近紅外波前分析儀，波段范圍900-1700nm，采樣點數量高達5120（80*64），靈敏度2nm，動態范圍100μm，采樣頻率120Hz
SID4-SWIR-HR高分辨近紅外波前分析儀
Phasics SID4-Swir波前傳感器
基于Phasics 專li（專li號CN200780005898）的四波橫向剪切干涉技術和高質量的InGaAs探測器，提供了一個非常高的空間分辨率和靈敏度， 確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.9到1.7µm，這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區域且不需要任何校準直接進行測量。
SID4-Swir 光學器件測量 自適應光學
特點：
由于其專有的zhuan利技術技術，Phasics的SID4-Swir波前傳感器具備以下特點：
1.高分辨率：80x64測量點，經濟實用，高性價比
2.高靈敏密度：整個光譜范圍內相位噪聲低于2nm
3.消色差：0.9-1.7μm（可擴展到2.4μm）
4.緊湊：易于集成
應用：
透鏡測試：SID4 SWIR波前分析儀實時測量光學元件MTF和畸變。適用于光通信，夜視和其他軍事和監視設備。無色差，SID4 SWIR涵蓋所有光通信波長。
激光束測試：SID4 SWIR也可以短波紅外光源，像1.55μm激光器或用于激光導向系統的LED。
SID4-Swir產品參數：
波長范圍 | 0.9-1.7μm |
通光孔徑 | 9.6 x 7.68 mm2 |
空間分辨率 | 120 µm |
采樣點（相位/強度） | 80 x 64 (> 5 000 points) |
相位相對靈敏度 | <2nm RMS |
相位精度 | 15nm RMS |
動態范圍 | 100μm |
采樣頻率 | 120 fps |
實時分析頻率 | 7 fps (full resolution) |
數據接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 100x 55 x 63 mm |
重量 | 455g |
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