產(chǎn)品簡(jiǎn)介高速大面積共聚焦拉曼成像系統(tǒng)
Nanobase共聚焦拉曼成像光譜儀系統(tǒng)采用透射式光路設(shè)計(jì),提高了產(chǎn)品的靈敏度和穩(wěn)定性。*的振鏡掃描技術(shù)能夠在臺(tái)面固定不動(dòng)的情況下實(shí)現(xiàn)快速二維成像掃描。該技術(shù)在聯(lián)用光電流成像系統(tǒng)載臺(tái)時(shí)優(yōu)勢(shì)明顯,并且可擴(kuò)展增加熒光壽命檢測(cè)系統(tǒng)。
XperRam C series是基礎(chǔ)款,采用一個(gè)532nm激光器激發(fā),集成了奧林巴斯顯微鏡,可以測(cè)量樣品的Raman/PL的光譜信號(hào)和mapping(Image)圖像。光譜信號(hào)強(qiáng),掃描速度快,。
產(chǎn)品特點(diǎn)高速大面積共聚焦拉曼成像系統(tǒng)
- 具有優(yōu)異的掃描分辨率和重復(fù)性
(激光掃描分辨率< 0.02 um & 重復(fù)性< 0.1 μm)
- 體相全息光柵光譜儀(光透過率>90%,比反射式光柵高30%,信號(hào)傳輸效率更高)
- 具有Raman/PL等多種測(cè)量模式,可擴(kuò)展為光電流成像功能
- 結(jié)構(gòu)緊湊,模塊化設(shè)計(jì)
- 掃描速度快,掃描范圍大200µm x 200µm范圍內(nèi)高速成像 & 2D Mapping
應(yīng)用領(lǐng)域
石墨烯,二維材料,生物樣本,半導(dǎo)體工業(yè),碳納米管,碳材料,太陽能電池,儲(chǔ)能材料,納米纖維分布,探測(cè)器光電性能檢測(cè),晶圓體分析,制藥分析,納米材料檢測(cè),生物細(xì)胞成像,微塑料檢測(cè),金剛石微粉檢測(cè)。
基本參數(shù)
激光器 |
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顯微鏡 |
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掃描模塊 |
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探測(cè)器 |
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光譜范圍 |
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光柵選擇 |
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其它附加選項(xiàng) |
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