磁光克爾效應磁滯回線測量儀
從當下主流的機械硬盤，到未來的磁性存儲單元，磁滯回線測量都是評估薄膜性質的重要手段。 相較于電學霍爾測量和震動磁強計，光磁克爾效應具有測量速度快，精度高，非侵入，且不需要對樣品進行加工或切片等操作的特點。通過對磁滯回線的分析，用戶不但可以得到矯頑力及相對磁化強度等信息，亦可了解磁性薄膜磁各向異性等性質。針對不同矯頑力的多層磁性薄膜結構，磁光克爾測量可以分析出逐層的磁滯回線信息。
上海屹持光電提供的磁滯回線測量儀標準系統按照性能優先，穩定性優先的設計思路，可以滿足實驗室研究及工業生產 中各種磁性薄膜材料的測試需求。針對不同磁各向異性材料的光學響應，我們提供兩種測試組件：PMA Checker 以及 IMA Looper，兩種系統共享一套數據采集系統，切換方便。“控制盒+光磁主體+電腦”的套裝（如上圖所示）即是完整的設備，無需任何外置儀表（電源，鎖相放大器）客戶即可快速完成磁滯回線的測量；此外，客戶可以自主選擇使用鎖相放大器（SR830/810，Zurich MFLI）進行數據采集，該設備預留了與鎖相放大器匹配的接口。
該磁滯回線測量儀產品提供基于 LabView的程序，方便客戶快速上手。基于 C，Python的控制程序也可應客戶要求提供。
磁光克爾效應磁滯回線測量儀 應用案例
? 自旋/磁電子學
? 磁性納米技術
? 非易失性磁性隨機存儲器
? 磁阻研究
? 磁性薄膜
? 磁性傳感器
右圖測試樣品結構（Si 襯底/MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)] 2 /X(2)/MgO (1)/Si (3) （厚度為納米，X=Pt, Cu, MgO, Ir, Ta, W, and Hf ）
技術參數
主要功能 | 垂直膜磁滯回線測量 |
測試模式 | 磁光克爾效應-反射式 |
光磁主體構成 | 半導體激光+起偏器+檢偏器+探測器+探測器放大電路+電源管理電路+樣品托+霍爾傳感器（可選）+電磁鐵 |
克爾角分辨率 | 0.001° |
磁場強度1 | ±3600 Oe |
設備控制盒構成 | 數據采集模組+電磁鐵電源+系統供電模組 |
供電輸入 （控制盒） | 220 VAC 50 Hz |
數據采集（控制盒內） | 16位精度，50kS/s |
電磁鐵電源 （控制盒內） | （控制盒內）90瓦 |
尺寸（光磁主體）2 | 60 毫米× 80毫米 × 160毫米 |
尺寸（控制盒）2 | 251 毫米× 60毫米 × 38毫米 |
1 更大磁場強度可按需定制
2 該尺寸不包含光學及電學連接器伸出的部分
該系統的定位是為客戶提供穩定、快捷、的磁滯回線測量設備，是簡單的也是可靠的。如需更多附加功能，例如：磁疇成像，微區測量，集成溫控設備，集成電學測量設備，集成樣品掃描成像等選項，我們建議客戶考慮 TTT-Mag-Kerr Microscope 系列產品。
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上海屹持光電技術有限公司
