設計用途
HDHG-A型CT勵磁特性綜合測試儀參考GB 1207-2006、GB 1208-2006等標準設計，用于對保護類CT進行自動測試，適用于實驗室及現場檢測。可自動完成CT勵磁特性、CT變比、CT極性、CT比差、CT角差、CT一次通流、CT/PT交流耐壓的測試。
二.產品特點
1 采用大屏幕液晶顯示器，圖形化顯示界面。
2 檢測功能齊全，無需外接其它輔助設備，單機即可完成所有檢測項目。
3數據存儲容量大，可保存100組試驗數據，且掉電不丟失，可在試驗完成后，查看和打印試驗結果。
4 自帶微型快速打印機，可在現場打印試驗數據和圖形。
5儀器具有自我保護功能，采用合理設計的散熱結構，具有可靠完善的多種保護措施。
6 220V單電源輸入，避免了使用380V時的危險。
三.面板說明
1. 熱敏式打印機；
2. CT勵磁特性試驗/交流耐壓試驗時電壓輸出端口；
3. 接地端子；
4. 高壓開關，即調壓器開關；
5. 液晶顯示器；
6. 電源插座、開關；
7. 旋轉鼠標；
8. CT變比極性試驗/一次通流試驗時大電流輸出端口；
9. CT變比極性試驗時二次側接入端口。
四.技術參數
項目 | 參數 |
輸出電壓 | 0～1000V |
輸出電流 | 0～600A |
角差 | 精度：±4min；分辨率：0.1min |
比差 | 精度：≤0.05% |
CT變比測量 | 1、范圍：≤10A/1A(50A/5A)；精度：≤0.5%； 2、范圍：≤5000A/1A(25000A/5A)；精度：≤0.2%； |
工作電源 | AC220V±10%；50Hz/60Hz（±2 Hz） |
體積 | 420mm×220mm×360mm |
重量 | 25Kg |
武漢華頂電力設備有限公司編制
局部放電時會伴隨著電暈放電，為了防范電暈放電，我們首先要知道電暈放電是如何形成的。
在直流電壓作用下，正負電暈極均在*電極附近聚集起空間電荷。在負極性電暈中，當電子碰撞電離后，電子被驅往遠離*電極的空間，并形成負離子，在靠近電極表面則聚集奇正離子，電場繼續加強時，正離子被吸進電極，此時出現一脈沖電流，負離子則擴散到間隙空間。此后又重復開始下一個電離及帶電粒子運動過程。如此循環，以致出現許多脈沖形式的電暈電流。若電壓繼續升高，電暈電流的脈沖頻率增加、負值增大，轉變為附輝光放電，電壓再升高，出現負流注放電，因其形狀又稱羽狀放電或稱刷狀放電。當負流注放電得以繼續發展到對面電極時，會導致火花放電，使整個間隙擊穿。正極性電暈在*電極附近也分布著正離子，但不斷被推斥向間隙空間，而電子則被吸進電極，同樣形成重復脈沖電流電暈。電壓繼續升高時，出現流注放電，并可導致間隙擊穿。
電暈放電的特征是伴有"嘶嘶"的響聲，有時有微弱的輝光，當導體表面上有很小的*存在時，就會生電暈放電。電暈放電可能指向其他物體也可能不指向某一特定方向。電暈放電時，*附近的電場強度很強，*附近氣體被電離，電荷可以離開導體;而遠離*處場強急劇減弱，電離不*，因而只能建立起微小的電流。電暈放電的特征是伴 " 嘶嘶"的響聲，有時有微弱的輝光。電暈放電可以是連續放電，也可以是連續脈沖放電，電暈放電的能量密度遠小于火花放電的能量密度。在某些情況下，如果升高*導體的電位，電暈會發展成為通向另一物體的火花。 成品檢驗耐壓試驗時，一定將導體部位插入銅接頭里，擰緊固定螺絲，使其牢牢固定于電纜頭部，用棉布醮取*將絕緣外露部分仔細擦凈，如果導體和高壓部位接觸不好也導致*電暈放電。在三根絕緣線芯做高壓試驗時，一定將絕緣介質分離開，防止電暈相互放電，在剝頭時嚴格按照操作規程，用刨刀從電纜端部向里剝削半導電屏蔽層，剝取絕緣及呼和浩特CT勵磁特性綜合測試儀選型導體屏蔽，剝削長度 8.7/15KV 及以下大于15cm，12/20KV~20/35KV 為大于 20cm，剝離厚度要求以剛好剝去絕緣半導電屏蔽層為宜，注意后收刀動作，根部應圓整，不準有尖角，剝離后的絕緣部分不允許有較深的刀痕或黑色半導電屏蔽層殘屑。使用大終端時剝取絕緣和導體屏蔽應使導體露出 5cm 為宜，小終端僅需剝去外屏蔽，表面不準有任何*。
發生電暈,對于高電壓電氣設呼和浩特CT勵磁特性綜合測試儀選型備，會逐漸破壞設備絕緣性能,電暈放電的空間電荷在一定條件下又有提高間隙擊穿強度的作用。在做耐壓試驗時，要加強防范措施，防止電暈放電的發生，提高成品檢驗效率。
