M2型全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術，全數字化及互聯網技術結合，運用高分辯率CMOS檢測器，精密設計的氬氣吹掃系統，使儀器具有較高的性能、較低的成本、以及竟爭力的價格。
M2型全譜直讀光譜儀可應用于多種材料的分析。
01 小巧、輕便、精致、可靠的儀器結構，具有同類型直讀光譜儀準確的分析數據。
02 超小設計的光學室結構及優化設計的氬氣吹掃系統，保證紫外區元素譜線的透過率。
03 應用高分辯多CMOS讀出系統，較低的暗電流、較好的檢出限、較高的穩定性、較強的靈敏度。
04 全數字化的智能復合光源DDD技術，充分滿足不同基體、不同樣品以及不同元素的激發要求。
05 FPGA數據采集及以太網網絡數據傳輸技術，保證數據*性及數據傳輸速率。
06 內置工廠校正曲線及曲線擴展技術，滿足不同材料的技術要求。
07互聯網網絡技術及數據云儲存。
08 操作簡單、維護成本低、質量可靠。
09 竟爭力的價格。
精密設計的氬氣吹掃系統
光室密封性強，可保持內部氬氣*純凈。
光室空間優化設計，降低氬氣消耗，有效節約產生成本。
低氬氣吹掃系統，確保光室UV波段測量環境。
光室充氬免除復雜的真空系統。
高分辯率CMOS檢測器實現全譜分析
譜線覆蓋了所有的重要元素，滿足所有基體和材料的分析。
高靈敏的紫外區檢測，對N的分析檢測更準確。
可有效選擇元素靈敏線，保證分析的準確度。
多峰擬合技術，有效消除譜線干擾，實現精準測量。
