蘇州西博三維科技有限公司是一家專業提供研發生產白光、激光檢測系統和設備的科技型企業，是國內相關技術領域研究較早、應用領域廣泛、技術和服務能力排名靠前的科技型公司。公司位于蘇州工業園區，依托西安交通大學模具與*成形研究所、西安交通大學蘇州研究院，*潛心于三維光學測量的基礎及應用研究，擁有*獨立自主的知識產權，關鍵技術達到*水平，制定了三維光學測量領域的*個國家標準，項目技術獲得國家技術發明二等獎一項，陜西省科學技術獎一項等。充分利用了西安交通大學的研發優勢，基于產學研相結合的平臺成立的新型科技型企業。公司在西安交通大學研究的基礎上，經過多年的積累，在光學測量和工程領域取得了一批高水平的研究成果，形成產業化鏈。
 | XTOM——三維光學面掃描系統
XTOM——三維光學面掃描系統基于雙目立體視覺原理，采用外差式多頻相移三維光學測量技術，測量精度、測量速度等性能都比較高，與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度高，抗*力強、受被測工件表面明暗影響小，可以掃描測量幾毫米到幾十米的工件和物體。廣泛適用于各種需求三維數據的行業，如汽車工業、飛機工業、摩托車外殼及內飾、家電、雕塑等。 |
XTOM——應用范圍
功能特色
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規格型號
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| 產品型號 | TOPSCAN-TC 單目型 | TOPSCAN-MIC 教育型 | TOPSCAN-EDU 教育四目 | TOPSCAN-ET 工業型 |
相機像素 | 1×1300000 ~2000000 | 2×1300000 ~2000000 | 4×1300000~2000000 | 2×1300000 ~4000000 |
| 掃描范圍 | 128×96mm 400×300mm | 32×24mm 64×48mm 128×96mm | 128×96mm 400×300mm | 128×96mm 400×300mm 800×600mm |
| 測量精度 | 0.02 ~0.04mm | 0.008~0.015mm | 0.03~0.05mm | 0.015~0.03mm |
| 采樣點距 | 0.15 mm~0.3mm | 0.08~0.15mm | 0.12~0.25mm | 0.10~0.25mm |
| 掃描方式 | 非接觸式掃描 | |||
| 輸出格式 | ASC，STL、PLY | |||
| 掃描時間 | 3~5S | |||
| 拼接方式 | 標志點全自動拼接，手動選點拼接 | |||
