UV-A型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
產(chǎn)品特點(diǎn):
* 光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
* 數(shù)字液晶顯示，帶背光
* 手動/自動量程切換
* 數(shù)字輸出接口（USB冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動延時(shí)關(guān)機(jī)
* 有數(shù)字保持
* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
主要技術(shù)指標(biāo):
| 探頭（二選其一）： | UV-420nm 探頭 | UV-365nm 探頭 |
| 波長范圍及峰值波長: | λ：(375～475)nm；λP＝420nm | λ：(320～400)nm；λP＝365nm |
| 紫外帶外區(qū)雜光： | UV420：小于0.02% | UV365：小于0.02% |
| 輻照度測量范圍： | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
| 相對示值誤差： | ±10%（相對與NIM標(biāo)準(zhǔn)） | |
| 角度響應(yīng)特性： | ±5%(α ≤10°) | |
| 線性誤差： | ±1% | |
| 短期不穩(wěn)定性： | ±1%（開機(jī)30min后） | |
| 響應(yīng)時(shí)間： | 1秒 | |
| 使用環(huán)境： | 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH | |
| 尺寸和重量： | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 電源： | 常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 亦可使用數(shù)據(jù)線連接USB接口、5V電源適配器供電 整機(jī)功耗 ＜0.1VA | |
附錄：
探頭光譜響應(yīng)曲線
