| 半導體分立器件測試儀 型號：NIBJ-2939 | 貨號：ZH9813 |
| 產品簡介: 該儀器充分吸收國外測試系統(tǒng)的特點，采用了的嵌入式計算機和優(yōu)化結構、16位并行A/D和D/A、多開爾文反饋、小信號精密測試以及陣列開關結構，并選用材料制作。在系統(tǒng)設計、選材、、制作、調試、校驗等諸多方面與現有同類系統(tǒng)相比均有較大，從而提高了系統(tǒng)的性能和性，了該系統(tǒng)項性能指標處于、*位。 其特點是：側重于中小功率器件、測試品種覆蓋面廣、測試精度高、電參數測試、速度快、有的重復性和*性、很高的工作穩(wěn)定性和性，很強的保護系統(tǒng)和被測器件保護能力。系統(tǒng)軟件功能、使用靈活方便、操作簡單。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定、硬件故障率低，在實際測試應用中項指標真實達到手冊要求。 系統(tǒng)采用方便易學的窗口菜單界面，在PC機窗口提示下，輸入被測器件的測試條件，測試人員即可輕松快捷地控制系統(tǒng)，完成填表編程和開發(fā)測試程序、測試器件。操作人員具備計算機編程語言知識，使用簡捷方便。3分鐘即可完成一種測試編程，編寫完成后輸入儀器即可測試。當然還可以在儀器下直接進行器件測試程序及條件的編寫，方便靈活。系統(tǒng)和測試夾具均采用多開爾文結構，自動補償系統(tǒng)內部產生的壓降，種情況下測試結果的精度和準確性。 優(yōu)良的、低廉的價格、周到的服務使得該系統(tǒng)在市場具有的競爭實力。“的、低端的價格、周到的、*的客戶服務”是儀美達產品對市場和對客戶的恒承諾。 特征 采用脈沖法測試參數、脈寬可為300μS，國標的規(guī)定采用嵌入式計算機控制，實現脫機運行 16位并行D/A、A/D設計，測試速度快、精度高 采用多開爾文，系統(tǒng)穩(wěn)定性高，測試結果準確 采用三保護，系統(tǒng)，對被測器件損傷 豐富的WINDOWS界面菜單編程和控制能力、方便的用戶信息文件、統(tǒng)計文件方式 晶體三管自動NPN和PNP 判別能力，防止選錯類型 二管性自動判別選擇，用戶測試二管不注意性 自檢/自校準能力 測試系統(tǒng)需要的其它多種數據后處理能力 參數 主電壓：200V 主電流：10mA 控制1電壓：20V 控制1電流：10A 控制2電壓：20V 控制2電流：1A 電壓分辨率：1mV 電流分辨率：1nA 測試速度：器件不同速度也不同 試器件種類 測試功能加，可測試八類中、小功率的半導體分立器件： 二管 穩(wěn)壓（齊納）二管 晶體管（NPN型/PNP型） 可控硅整流器（普通晶閘管） 雙向可控硅（雙向晶閘管） MOS場效應管（N-溝/P-溝） 結型場效應管（N-溝/P-溝，耗盡型/增強型） 光電耦合器 上述所列類別包括中、小功率半導體分立器件及其組成的陣列、組合、表貼器件。 測試方法行業(yè)總規(guī)范、相應的標準、器件測試標準。 提供上述類器件測試所用的不同封裝形式的測試夾具和測試適配器。 可以定做種陣列、組合封裝、表貼器件的測試夾具。 幫助用戶開發(fā)種器件的測試程序。 參數 漏電參數：IR、ICBO、LCEO/S、IDSS、IDOFF、IDGO、ICES、IGESF、IEBO、IGSSF、LGSSR、IGSS、IR(OPTO) 擊穿參數： BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA) BVDSS、VD、 BVCBO、VDRM、VRRM、VBB BVR、VD+、VD-、BVDGO、BV Z、BVEBO、BVGSS 增益參數：hFE、CTR、gFS 導通參數：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode) 、VGSTH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDSS、IDON 關斷參數：VGSOFF 觸發(fā)參數：IGT、VGT 保持參數：IH 鎖定參數：IL 混合參數：rDSON、gFS 測試盒說明： 測試盒共有五種： 1：可測二管、穩(wěn)壓二管； 2：可測封裝為TO-92、TO-220等三個管腳在一個平面上的三端器件； 3：可測封裝為TO-3及封裝為F1、F2、F3、F4三端器件； 4：可測三個管腳分三角形排列，且器件殼體為小圓型的小功率三端器件； 5：可測DIP4、DIP6、DIP8封裝的光電耦合器； 測試夾具： 測試夾具有三根夾子線，與測試盒1配合使用，用來測試器件形狀，不能使用上述五種測試盒上的插座，則使用此三個夾子線直接夾在器件的管腳上進行測試。 表貼器件 其它表貼類型的器件，可根據實際器件的封裝定做相應的測試盒。 |  |
