超寬范圍雙折射測試儀

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本東北大學的光子晶體的研究技術為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術居世界前列，并由此開發出的測量儀器。 

主要產品分四部分：

·         n 光子晶體光學元件；

·         雙折射和相位差評價系統；

·         膜厚測試儀；

·         偏振成像相機。

『相位差』『雙折射』『內部應力』測量裝置 WPA/PA系列

·         快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內的

·         相位差、雙折射和內部應力應變分布

PA/WPA系統特點：

·         操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布

·         2D數據的多方面分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。

·         大相位差測試能力（WPA系列）：通過對三組不同波長的測量數據進行計算，WPA系統可以測量出幾千nm范圍內的相位差。

          偏光圖像傳感器的結構和測試原理

超寬范圍雙折射測試儀

超寬范圍的雙折射評價系統 WPA-100-H,WPA-100-L-H

WPA-100-H和WPA-100-L-H提供了測量超過10000nm的測量范圍，這遠遠超出了一般雙折射率測量的上限。L-H更是給您一個更大的觀察視場。

超寬范圍雙折射測試儀