HP4191A射頻阻抗分析儀
本檢定系統適用于射（高）頻集總參數阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設備和量具、標準件），規定了射頻（習慣上也稱高頻）集總參數阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。
HP4191A射頻阻抗分析儀
HP4191A射頻阻抗分析儀
產品簡介
主要用途
測試材料的阻抗Z，導納Y，L，電阻R，介電損耗D，品質因數
射頻阻抗計量器具檢定系統
VerificationSchemeofRF
ImpedanceMeasuringInstruments JJG2011-87
代替：高頻阻抗量值傳遞系統
射頻阻抗計量器具檢定系統
本檢定系統適用于射（高）頻集總參數阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設備和量具、標準件），規定了射頻（習慣上也稱高頻）集總參數阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。
一、計量基準器具
1、高頻集總參數阻抗的國家計量基準器具是指用于復現和保存20kHz-1000GHz高頻阻抗量值（包括電介質材料的復數介電常數和的復數導磁率）的計量設備和量具。
2、射（高）頻集總參數阻抗計量基準器具包括：
2.1空氣介質同軸線阻抗基準，其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性論計算求得。它用以校準按反射系數測量原理設計的高頻阻抗精密測量裝置?？諝饨橘|同軸線也是微波阻抗國家基準，本檢定系統移用它，有利于射（高）頻、微波阻抗量值的統一。在（1-1000）MHz頻段，其技術指標為：
反射系數模值｜г｜：1.000±0.002；相角：±180°±0.5°。
2.2高頻阻高頻阻抗精密測量裝置，它是利用從美國引進的HP4191A高頻阻抗分析儀，經過準確度論證分析，保證高頻集總參數阻抗量的以下計量工作性能：
頻率：（1-1000）MHz
反射系數模值｜г｜：1.000±（0.003-0.007）
相角θ：±180°±0.5°；
阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）％
電容C：10pF-100nF±（0.2-10）％；
電感L：10nH-100μH±（0.2-10）％
損耗：tgδ（D）0.001-0.5±＜（0.002-0.05）
二、高頻集總參數阻抗標準
3、集總參數阻抗標準包括：
3.1高頻阻抗標準件50Ω，0Ω，0S。它們由國家基準通過直接比對法傳遞量值，技術特性如下：
50Ω：｜г｜≤0.0025；0Ω：殘余阻抗小于2mΩ；0S：邊緣電容值0.080pF。
這些標準件用以校準按電壓電流比原理設計的高頻阻抗分析儀、高頻LCR表等通用高頻阻抗（校準中還需使用直流以和低頻阻抗標準伯）。并由50Ω阻抗件組成模擬損耗件校準Q值、tgδ值等標準設備。
3.2高頻、低頻阻抗分析儀。這些是市售商品高準確度阻抗器，也用作計量標準設備，用以定標低準確度的阻抗標準量具。其技術指標為：
頻率：20kHz-1000MHz；
阻抗｜Z｜：1Ω-10kΩ±（1-20％）；
電容C：10pF-100nF±（0.5-20）％；
電感L：10nH-1.00μH±（0.5-20）％
