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公司介紹主營產品

*代理美國 Thermo、日本 SEIKO 及韓國 Micro Pioneer的 X-射線測厚儀。此儀器主要應用于線路板的鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適用于對微細表面積或超薄鍍層的測量。此外，針對PCB線路板生產的不同工序，我司亦有以下不同產品可供選擇：1 韓國Micro Pioneer X-射線測厚儀1 美國UPA / VEECO非破壞性厚度測試儀1 美國禾威(WALCHEM)電鍍藥液自動添加系統1 日本SEIKO(SII)X射線螢光測厚儀及元素分析儀1 日本KETT手提式渦流 / 磁感測試儀1 美國CECO PCB基材測試系統1 美國ECI電鍍藥液分析系統1 美國UNITRON工業用顯微鏡系統及表面光滑度測試儀1 美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品1 德國SCAN-DIA研磨 / 拋光器材及消耗品1 德國WTW實驗室 / 工業用水質檢查系統1 美國DeltaTRAK溫度測試儀器多年來，我們一直致力于為半導體生產行業，PCB 廠商及一般電鍍業等行業提供優質服務，讓客戶滿意，為客戶較大限度創造價值是我們始終堅持的目標，因為我們相信，客戶的需要就是我們前進的動力。德國SCAN-DIA半自動研磨機德國SCAN-DIA微型低速切片機美國EXTECH金相切片機美國EXTECH研磨機美國EXTECH雙盤研磨機美國EXTECH自動研磨機取樣切割碟鉆石磨光膏,粉,劑水晶膠凝膠杯沙紙&絨布樣品夾微型*微型真空抽氣泵金相切片測量套裝金相測量軟件美國UNITRON高級金相顯微鏡美國UNITRON直立式金相顯微鏡美國UNITRON倒立式金相顯微鏡德國 Roentgenanalytik X射線熒光測厚儀

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產品簡介在線詢價

美國Calmetrics膜厚儀標準片Calibration Standard【請直接：】

膜厚儀標準片Calibration Standard 產品詳情

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測試儀標準片

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業用于測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度的時候進行標準化校準.也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB,五金電鍍,半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。

測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學鍍層片。如:

單鍍層：Ag/xx, 雙鍍層：Au/Ni/xx , 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層：Sn-Pb/xx, 化學鍍層：Ni-P/xx.

我們可以根據客戶不同的金屬元素,鍍層結構,鍍層厚度等要求向美國工廠定做標準片,并可出據標準片厚度值證書.

關鍵詞：標準測厚儀

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