X熒光光譜儀鍍層厚度測量檢測儀

型號： AODJ-EDX3600L

X熒光光譜儀鍍層厚度測量檢測儀儀器介紹

       我公司研制生產的EDX3600L型的儀器，利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的功效。同時，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司特意根據行業需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。

       EDX3600L型儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到一機多用，是古文物檢測*的科學檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協會等古文物收藏部門都是其用戶。

X熒光光譜儀鍍層厚度測量檢測儀技術指標

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）

元素含量分析范圍：1ppm—99.99%

分析精度：0.05%

同時分析元素：幾十種元素同時分析

測量鍍層：鍍層厚度測量Z薄至0.01微米

測量對象狀態：粉末、固體、液體

測量時間：60s—200s 

管壓：5KV—50KV

管流：50uA—1000uA

輸入電壓：AC 110V/220V 

消耗功率：200W  

環境溫度: 15-26℃ 

相對濕度: ≤70% 

超大抽真空樣品腔：600*600*1000mm3

重 量 : 280KG

標準配置

電制冷UHRD探測器

內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍

可自動切換型準直器和濾光片

光路增強系統

內置高清晰攝像頭

加強的金屬元素感度分析器

智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

面光源

放大電路

高低壓電源

X光管

多變量非線性回歸程序

相互獨立的基體效應校正模型。

三重安全保護模式

應用領域

古陶瓷

古青銅器

古首飾

鍍層測厚