1:涂料磨耗儀./耐磨性能測試儀
 型號:MHY-06185

涂料磨耗儀.
磨耗儀適用于測試各種涂料的耐磨性能：如甲板漆、地板漆、道路漆等。也可用于測試紙張、塑料、紡織品、裝飾板等的耐磨性能。本儀器采用無級變速，可以滿足用戶對不同轉速的要求，可根據不同被測試樣采用不同材料的砂輪，具有操作簡單、性能可靠的特點。

適用于GB/T15036、2-2001、GB/T15102-94、GB/T18102-2000、GB/T4893、8-85、GB/T17657-1999、GB/T1768-89標準。
主要技術參數
1.主電機動：　40W 220V 50Hz
2.轉盤轉速：　0～90r/min
3.樣板底盤：　Φ100mmxΦ6.2㎜（中心孔）×3㎜
4.砂輪尺寸：　Φ50mmxΦ16㎜（中心孔）×13㎜
5.荷重砝碼：　500克　750克 　1000克
6.外形尺寸：　220×280×300㎜（長×寬×高）

2:流平測定儀/流平性測定儀
型號:MHY-06184

主要用于實驗室測定液態涂料的相對流平性（涂料在干燥過程中消除表面弊病的能力）。
適用于ASTM D2801-1994、JB/T3998-1999標準
流平測定儀DPQAG適用范圍
設計制造的DPQAG型流平性測定儀，一般與流掛性實驗器配合使用，試驗涂料在施工和干燥期間的流平（分散）和流掛性，為達到所要求的表面效果作比較試驗。由于是專項試驗而節約時間，能快速試驗產品合格與否，從而快速調整配方。
流平測定儀DPQAG參數
DPQAG-1:涂層100-1000um
外形尺寸：框式120×20×20mm（長×寬×高）
凹槽深度: 0.1/ 0.2/ 0.3/ 0.5 /1.0 mm

DPQAG-2:涂層250-4000um
外形尺寸：框式120×22×20mm（長×寬×高）
凹槽深度: 0.25 / 0.5 / 1.0 / 2.0 /  4.0 mm
流平測定儀DPQAG簡單介紹
主要用于實驗室測定液態涂料的相對流平性（涂料在干燥過程中消除表面弊病的能力）。
適用于ASTM D2801-1994、JB/T3998-1999標準
流平測定儀DPQAG適用范圍
設計制造的DPQAG型流平性測定儀，一般與流掛性實驗器配合使用，試驗涂料在施工和干燥期間的流平（分散）和流掛性，為達到所要求的表面效果作比較試驗。由于是專項試驗而節約時間，能快速試驗產品合格與否，從而快速調整配方。
流平測定儀DPQAG參數
DPQAG-1:涂層100-1000um
外形尺寸：框式120×20×20mm（長×寬×高）
凹槽深度: 0.1/ 0.2/ 0.3/ 0.5 /1.0 mm

DPQAG-2:涂層250-4000um
外形尺寸：框式120×22×20mm（長×寬×高）
凹槽深度: 0.25 / 0.5 / 1.0 / 2.0 /  4.0 mm

3:十位智能頻率計/智能頻率計/數字智能頻率計
型號：MHY-06183

一、 概述與用途
本儀器用于通訊設備、廣播設備、電子儀表及家電產品的測量調試，是一款功能多、精度高的數字化儀器。本儀器測頻可達2400兆赫，四功能（測頻率、測周期、計數、晶體測量）、低功耗、體積小、重量輕，高穩定，全部功能是由一片大規模集成電路來完成的。整個儀器的功能和使用方法均在這本說明書里，在使用該儀器前，請務必通讀并弄懂這些資料的細節，以便正確的操作，取得的效果。

二、主要技術指標
（1） 測量頻率范圍：10Hz—2.4GHz（方波、三角波、正弦波均可）。
（2） 10位超高亮數碼顯示，15個發光二極管指示工作狀態，100Hz動態掃描。
（3） 6個測量檔：1、2、3檔為測頻檔、4檔為計數檔、5檔為測晶振檔、6檔為測周期檔。4個閘門檔：0.1秒、1秒、5秒、10秒。
（4） 求差計算功能。也叫識別比較功能。
（5） 周期測量、計數（加或減）。
① TTL電平輸入
② 測量周期的分辨率為0.01us。
③ 可分別測量波頂、波底和整個波周期，可測量連續波周期或捕捉單個波周期。
（6）晶體測量：2MHz — 24MHz
（7）系統時鐘晶振配有恒溫控制裝置。
（8）工作狀態記憶功能：復位后或重新開機都能自動進入上一次工作狀態。

三、測量方式
（一） 頻率測量：
量 程： 1檔位 30MHz—2400MHz 比例計數通道A輸入（上面插座）。
2檔位1MHz—30MHz 直接計數通道B輸入（中間插座）。
3檔位 10Hz—1MHz 直接計數通道B輸入（中間插座）。
分辨率： 1檔位 10Hz、20Hz、100Hz、1000Hz任選。
2檔位 0.1Hz、0.2Hz、1Hz、10Hz任選。
3檔位 0.1Hz、0.2Hz、1Hz、10Hz任選。
閘門時間： 0.1S、1S、5S、10S任選。
（二）累計測量：
4檔位：通道C輸入（下面的插座），間隔時間長度不限。加或減1輸入計數。
（三）晶體測量：
5檔位：2MHz — 24MHz 前面板晶體插口輸入。
（四）周期測量：
6檔位：TTL電平周期測量，通道C輸入（下面插座）。分辯率為0.01us。可分
別測量波頂、波底和整個波周期，可測量單個或連續波周期。

四、輸入特性
1、通道A 輸入靈敏度：
30MHz—2400MHz 30mV
阻抗：約50Ω
大安全電壓：3V
2、通道B 輸入靈敏度：
10Hz—1MHz 30mV
1MHz—30MHz 30mV
大安全電壓：10V
3、通道C TTL電平（施密特）。

五、面板結構
本儀器共有8個按鍵，分別為：①閘門時間選擇鍵“閘門” ②功能選擇鍵“檔位” ③確定鍵“確定” ④求差/非求差選擇鍵“求差/非求差” ⑤數值輸入鍵“置數” ⑥數值位選擇鍵“選位” ⑦數值輸入開始//完畢鍵“開始/完畢” ⑧波頂/波底/全波選擇鍵“頂/底/全”，四個輸入口：A高頻輸入口（上面一個插口），供測試30MHz — 2.4GHz；B中、低頻輸入口（中間一個插口），供測試中頻1MHz — 30MHz，低頻10Hz — 1MHz；C周期計數輸入口（下面一個插口），供測試周期計數用；D晶體輸入口，供測試2MHz — 24MHz晶體用。15個指示燈，分別指示對應的工作狀態。

六、使用方法
（一） 頻率測量：將儀器上的電源插頭插入220V交流電源插座上，打開后面板上的電源開關，此時儀器顯示H2000-A后，自動進入上次操作狀態（記憶功能），將隨機電纜插入面板上的相應插座，選擇適當的檔位和閘門時間即可測量信號頻率。閘門時間短，則測頻速度快，但分辨率低；閘門時間長，則測頻速度慢，但分辯率高。
① 30MHz — 2.4GHz頻率的測量：將隨機電纜插入A（上面一個插口），按動“檔位”鍵到“1”檔位，按動“閘門”鍵到任意值，再按“確定”鍵確定，此時“兆赫”和“高頻”燈亮，即可得到所測頻率的數值。
② 1MHz — 30MHz頻率的測量：將隨機電纜插入B（中間一個插口），按動“檔位”鍵到“2”檔位，按動“閘門”鍵到任意值，再按“確定”鍵確定，此時“兆赫”和“中頻”燈亮，即可得到所測頻率的數值。
④10Hz — 1MHz頻率的測量：將隨機電纜插入B（中間一個插口），按動“檔位”鍵到“3”檔位，按動“閘門”鍵到任意值，再按“確定”鍵確定，此時“千赫”和“低頻”燈亮，即可得到所測頻率的數值。
由于低頻率時是高阻抗，而測試的頻率為低阻抗（如測試50Hz交流電源），此時會產生阻抗嚴重失配，可在低頻的探頭上串接一個1MΩ的電阻。
（二） 計數測量：將隨機電纜插入C（下面一個插口），按動“檔位”鍵到“4”檔位，按動“閘門”鍵到0.1秒，再按“確定”鍵確定，此時 “計數”燈亮，即可計數測量。
（三） TTL電平周期測量：周期測量的應用領域極其廣泛，如測速、測距、測轉速以及電子產品中的參數測量，都要用到。為得到精確的測量值，本儀器采取TTL電平直接輸入方式。具體操作
將隨機電纜插入C（下面一個插口），按動“檔位”鍵到“6”檔位，按動“閘門”鍵到任意值，按“確定”鍵確定，此時“微秒”“周期”“全波”燈亮，再根據您的需要，按動“頂/底/全”按鍵，對應的測量部分“波頂”“波底”“全波”指示燈亮，即可進行周期的測量。
（四） 晶體測量：將2MHz—24MHz的晶體插入晶體輸入口，按動“檔位”鍵到“5”檔位，按動“閘門”鍵到任意值（閘門時間越長，測量的位數越多，數值也就越精確），此時“晶體”“千赫”燈亮，按“確定”鍵確定，即可得到所測晶體的數值。
（五） 求差功能的使用：此功能宜用在對某一非整數頻率進行調校的場合，對生產工作量較大的企業更為合適，它可有效的提高調機工的工作效率和降低勞動強度。操作如下：
①頻率求差：接通電源，根據所測頻率按下“檔位”鍵，按下“確定”鍵確定，按下“求差/非求差”鍵，此時顯示屏右邊的“求差”、“小于”燈亮，再按“開始/完畢”鍵，此時十個數碼管均亮，個位數碼管不停閃動，根據目標數值的個位，按動“置數”鍵，以改變目標輸入值的個位數，按動“選位”鍵，此時十位數碼管不停閃動，再按“置數”鍵，以改便十位數到目標輸入值的十位數，再按“選位”鍵進入百位，以此類推，直到目標輸入值全部輸入完畢為止，后按“開始/完畢”鍵，此時顯示值即為求差值。根據您的求差值，將測試電纜插入相應的插座，當測試電路的頻率高于您的求差值，此時顯示的數值為正數，“大于”燈亮；當測試電路的頻率低于您的求差值，此時顯示的數值為負數，“小于”燈亮；當測試電路的頻率等于您的求差值，此時顯示的數值為零。閘門時間的改變可使小數點的位置移動。
②晶體求差：按通電源，“檔位”鍵選到5檔，此時“晶體”、“千赫”燈亮，按“確定”鍵確定，按“開始/完畢”鍵，此時10個數碼管全部點亮，個位數碼管閃動，按頻率的求差方法，進行“選位”和“置數”，即可得到晶體的預置值，按“開始/完畢”鍵，再按“求差/非求差”鍵，到“求差”、“小于”燈亮，即可進行晶體的求差測量。
③計數求差：接通電源，“檔位”鍵選到“4”檔，此時“計數”指示燈亮，“確
定”鍵確定，再按“開始/完畢”鍵，此時10個數碼管全亮，按“置數”鍵，選個位到預定值，按“選位”鍵到十位，按“置數”鍵，選十位到預定值，以此類推，到預定的計數值全部輸入完畢，按“開始/完畢”鍵，再按“求差”鍵，即可進行求差計數測量。“求差”、“小于”燈亮，此時是減法計數，（閘門置于相應的時間）。

七、故障與排除
有時儀器可能出現下列現象：
1、 數碼管顯示非正常數字（缺筆畫），數碼管會停止刷新數字這并非是儀器損壞，您只要斷一下電，儀器便可恢復正常工作。
2、 本機在無信號輸入時可能是非零顯示，這是正常現象，不影響正常測量。
3、 本機如發生不可恢復的死機時，可按如下操作：
A打開機殼將電路93C46左上角的兩根插針焊開，打開電源開關，機器進入默認檔位工作。
B將焊開處重新焊上，按下“閘門”鍵或“檔位”鍵，再按下“確定”鍵，本儀器即恢復正常工作。焊開處不連接時，機器仍可正常工作，只是無記憶功能。

八、注意事項
1、 測量高壓，強輻射信號頻率時，有線方式應串接大阻值電阻，無線方式，應將頻率計遠離輻射信號源，或使信號衰減后再進行測試，以免損壞儀器。
2、 在測量100 MHz以上的信號時，測量用電纜應盡量的短。
3、 本儀器的測周期和計數輸入端，為一施密特反向器，輸入信號應以方波為好，當測量其它形式信號時應做適當變換。
4、 輸入插座旁所標注的高頻、中頻、低頻不是無線電術語中的概念，在這里高頻為30兆至2400兆，中頻為1兆至30兆，低頻為10赫至1兆。
5、 請勿將儀器置于高溫、潮濕、多塵之環境，并應避免劇烈震動。

九、其它
1、電源： AC 220V ±10% 頻率50 Hz
2、使用溫度： -5℃ — +40℃
3、存放和運輸：-40℃ — 60℃
4、濕 度：工作：10 — 90% RH 存放：5 — 95% RH
5、尺 寸： 寬（205 mm） 高（75 mm） 長（220 mm） 重（1 kg）
6、附 件：說明書一份，測試電纜線一根。

4:多功能智能頻率計/智能頻率計/數字頻率計
型號：MHY-06182

一、 概述
尊敬的用戶，感謝您選用本儀器。在使用前請您通讀并弄懂本儀器的細節，以便正確操作，從而取得的效果。
本儀器是一個0.001Hz—2.4G的多功能智能頻率計，功能有：頻率測量、累計計數、周期及晶體測量，工作狀態記憶等功能，可直測數字手機的射頻頻率（國內市場尚未出現）、手機GSM制射頻幀周期，區別手機制式（GSM或CDMA），以及晶體固有頻率的測量，全部功能由一個單片計算機來完成，故儀器體積小巧、簡潔緊湊，功能多，性能可靠，且價格低廉，實是一部修理行業以及電子生產廠調試*的儀器。
二、技術指標
（一）頻率測量
A、量程：
1檔 30 MHz — 2400 MHz
2檔 1 MHz — 30 MHz（具有衰減，“A”抬起，x 1；“B” 按下，x 20）
3檔 10 Hz — 1 MHz（具有衰減，“A”抬起，x 1；“B”按下，x 20）
8檔 0.001 Hz — 100 Hz（輸入幅度：2.5V—5V，TTL電平）
B、閘門時間：0.1秒、1秒、5秒、10秒共分4檔
C、輸入靈敏度：35 mV — 30 V
D、輸入阻抗：30 MHz — 2.4 GHz為50 Ω、其余為1 MΩ
E、時基：12 MHz，穩定度為2 x 10-6/秒
F、精度：基準時間誤差 x 頻率 + 1個計數值
G、分辯率：1個計數值（滿量程8位數顯示時）
（二）周期測量
6檔（下降沿有效），由“常態/放大”開關進行選擇。10 Hz—30 MHz輸入端輸入。輸入幅度2.5—5V，TTL電平，大不超過5V。小周期為30us，大周期為4294967295us，可顯示周期數值99999999，分辯率為1us。
（三） 累計計數：4檔位10 Hz—30MHz 輸入端輸入，其分辯率為1個計數值。
（四） 晶體測量：5檔位 插口A測30 KHz — 5MHz（晶體鍵彈出），插口B測2 MHz — 24 MHz晶體，實際可測到50MHz（晶體健按下）。
三、 本儀器的特點
A、測量范圍寬、精度高：可測0.001Hz—2400MHz的正弦波、方波、三角波等信號的頻率。
B、具有多種測量功能：
① 可測數字手機的射頻頻率（815—960MHz、1800—1990MHz）以及對講機、無線機的發射頻率。
② 可識別手機的制式（GSM或CDMA）。
③ 可測GSM制的射頻周期（周期為4615us）。
④ 可測石英晶體振蕩器的固有頻率（30 KHz — 50MHz）。
⑤ 可測輸入信號的周期。
⑥ 可對輸入信號累計計數，切斷儀器電源后能保存上次的原有狀態，及具有記憶功能。
四、 儀器的使用
A、頻率的測量：
① 選擇合適的信號輸入端：本儀器面板左邊有三個信號輸入端，上為30MHz—2.4GHz信號輸入端，中間為10Hz—30MHz信號輸入端，下面為0.001Hz—100Hz信號輸入端，（2.5V—5V有效）。
② 按動“閘門”按鍵，選好合適的閘門時間，每按動一次“閘門”按鍵，閘門時間就變化一次，按照0.1秒—1秒—5秒—10秒循環變化。閘門時間越長，分辨率越高，但測試速度也越慢。
③ 按動“檔位”按鍵，測頻率應選擇1、2、3、8各檔位中的一個，每檔測量頻率范圍如下：
1檔 30MHz——2400MHz
2檔 1MHz—30MHz（具有衰減，“A”抬起，x 1；“B”
按下，x 20）
3檔 10Hz—1MHz（具有衰減，“A”抬起，x 1；“B”按
下，x 20）
8檔 0.001Hz—100Hz（輸入幅度：2.5V—5V，TTL電平）
④ 按“確定”鍵后，即開始測量并顯示。
由于低頻率時是高阻抗，而測試的頻率為低阻抗（如測試50Hz交流電源），此時會產生阻抗嚴重失配，可在低頻的探頭上串接一個1MΩ的電阻。
B、周期的測量：
① 可測量周期的范圍：30us—1.19 h，但多只能顯示8位數字。
② 選用中間一個輸入端口，測小信號時（35MV—5V）按下“常態/放大”鍵，“A、B“抬起。測大信號時，“A、B”鍵和“常態/放大”鍵同時按入。
③ 如TTL電平從下面的輸入端輸入，幅度為2.5V—5V有效，“常態/放大”鍵和“A、B”鍵均抬起。
④ 按動“檔位”鍵，選第6檔，按“確定”鍵后即開始測量并顯示，單位為微秒。
C、累計計數的方法：
① 選用10Hz—30MHz端口作累計計數輸入端。
② 檔位選第4檔，按下“確定”鍵后即開始計數。
③ 停止計數需切斷信號源。
D、石英晶體固有振蕩頻率的測量：
① 選好合適的晶體測量口：本儀器面板提供兩個晶體測量口，由面板A、B晶體按鍵來選擇。A口可測30KHz—4MHz晶體，B口可測2MHz—24MHz晶體（實際可測到50MHz以上的晶體，24MHz以上晶體用顯示值乘以3即為實際振蕩頻率）。
② 按動“閘門”鍵，選好合適的閘門時間。
③ 按動“檔位”鍵，選第5檔，按“確定”鍵后即開始測量并顯示。
E、手機制式的識別：
① 在30MHz—2.4GHz輸入端口插一根長約5公分左右的導線作接收天線。
② 選第6檔位，按“確定”鍵，“常態/放大”鍵抬起。
③ 用手機撥號后如出現4615us或它的整頻倍時，則表明該手機是GSM制式，反之是CDMA制。測量時出現7-8個微秒的誤差屬正常現象。
F、手機發射頻率的測量：
① 在30MHz—2.4GHz輸入端口插一根長約5公分左右的導線作接收天線。
② CDMA制手機和模擬手機選用第1檔，GSM手機選用第7檔，閘門均選用0.1秒，“常態/放大”鍵抬起。
③ 按“確定”鍵后，用手機撥號即可測出并顯示手機發射頻率。
五、 注意事項
①測量高頻強輻射信號時，無線方式應遠離信號源，有線方式應串接大電阻，如果信號超過30V時，還應按下面板A、B晶體選擇按鍵（20倍衰減器）以免損壞儀器。
②本機在無信號輸入時，可能是非零顯示，這是正常現象，不影響測試精度。
③有時儀器可能出現下列現象：數碼管顯示出非正常數字（缺筆畫），數碼管會停止刷新數字，這并非儀器出現故障，只要再按一下復位鍵，儀器便可恢復正常工作。
④本機采用新版CPU，程序已經過加密處理。如用戶私自解密造成程序損壞，
不屬保修范圍。
⑤測量手機射頻和幀周期時，并不是穩定地顯示某一數值，這是手機通信原理所決定的，并非儀器不穩定。
⑥8檔位的測量單位是Hz，6檔位的測量單位是微秒。
⑦測對講機發射頻率應根據對講機的頻率范圍選擇合適的檔位，且對講機應由遠近靠近頻率計。
⑧測BP機，子母機，對講機的本振頻率應在探頭上串接一只5 P左右的小電容后去探測測量點。
⑨測量手機射頻頻率，測周期，測射頻幀周期，計數和測晶體，共用了一個指
示燈。
六、 其它
①電源：交流220 V±20 %、50 Hz
②環境溫度：-5℃- + 40℃(正常工作時需預熱10分鐘)
③相對濕度：10%-90% RH
④外形尺寸：202mm （寬）x 75 mm（高）x 230 mm（長）
⑤重量：約1Kg
⑥附件：測試電纜線一根，電源線一根，說明書一份。

5:多功能頻率計/頻率計/多功能頻率計/數字頻率計
型號：MHY-06181

本儀器可測量10Hz－2.4G之振蕩頻率，具有七位高亮度LED顯示，該機性能穩定、測量精度高、體積小、重量輕、價格低廉，是一個既能測頻率又能測周期、計數和電容多功能測試儀器。

技術指標
一、 頻率計：
1、 測量范圍： 10Hz－2.4GHz
2、 量程： （1） 檔 10Hz－10MC
（2） 檔 10Hz－50 MC
（3） 檔 50MC－2400 MC

3、 閘門時間：0.02S、0.2S、2S任選
4、 靈敏度：≤20mV
5、 阻抗：1MΩ、50Ω
6、 精度：基準時間誤差 x 頻率 ±1計數值
7、 數顯：7位
二、周期：
1、 測量范圍：1－9999999S
2、閘門時間：0.01S、0.1S、1S 任選
三、計數：1－9999999
四、電容：測量范圍 10P－5000UF誤差±5％
五、電源電壓：220V ±20％ 50Hz
六、計數測量：按下“計數鍵”, “G”燈亮，再按“清零鍵”，清零復位，脈沖由低頻輸入口（10Hz-50Mc）輸入，然后開始計數。
七、電容測量：按下電容鍵，將電容用隨機所附的測試線接入CX插座（電解電容注意極性，紅插座接＋極）根據所測電容選擇適當量程10UF或10KVF，該開關處于復位狀態時，測10p-10UF，按下時測0.01UF－5000UF,測10P－50P電容時要減去分布電容8P，電容容量較大時，所需測量的時間較長。
八、晶體測量：按下10UF電容鍵和閘門鍵，頻率選用10M或50M檔，接口在晶振插口測得晶振值，測量范圍2M-24M。
九、附件：測試電纜線二根（低頻黑色、高頻灰色各一根）；晶振、電容測試線一對；電源線一根；說明書一份。

注意！高電壓、高容量的電容必須先放電后測量，否則會損壞本儀器。在測量過程中OF發光管工作時，說明被測量數值已溢出，請選高一檔量程.